儀器品牌:日本電子株式會社(JEOL)
儀器型號:JEM-2100PLUS
基本功能:
1. 點分辨率:0.23nm、線分辨率:0.14nm;放大倍數(shù)可達150萬倍,能反映樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu),微區(qū)的晶體結(jié)構(gòu)和組織的觀察與分析;
2. 配置能譜探測器,可做EDS分析,可用于超微結(jié)構(gòu)的成分分析;
儀器主要技術(shù)參數(shù):
1. 點分辨率:≤0.23nm
2. 線分辨率:≤0.14nm
3. 加速電壓:80 ~ 200kV可調(diào)
4. 電子光路快速切換:TEM/EDS/NBD/CBD模式一鍵式切換;操作鍵盤和旋鈕控制電子束會聚角度變化
5. 放大倍率
5.1 MAG模式:x2,000 - x1,500,000
5.2 LOW MAG模式:x30 – x6000
6. EDS系統(tǒng):
6.1 SDD電制冷能譜儀, 探測器有效面積80mm2
6.2 能量分辨率:Mn Ka保證優(yōu)于127eV,元素分析范圍:從Be4-U92
7. 相機系統(tǒng)
7.1 像素:5120*3840 CMOS相機
7.2 有效像素尺寸:13 um×13 um
送樣要求:
1. 粉末樣品顆粒直徑<100nm,固體塊體樣品要預(yù)先減薄制作,厚度100 nm以下;
2. 樣品在高真空中能保持穩(wěn)定;
3. 不含有水分或其它易揮發(fā)物,水分或其他易揮發(fā)物的試樣應(yīng)先烘干除去;
4. 不能測試磁性樣品;
5. 生物樣品符合生物安全標準。
6. 需自行提前制備好樣品。
聯(lián)系方式:
測試地點:國科大重慶學院6號樓104
管理人員:易夏琳
聯(lián)系電話:18064098409