歡迎訪問中國科學院重慶綠色智能技術研究院·綜合分析測試中心 ——所級公共技術中心
儀器品牌：日本電子株式會社（JEOL）
儀器型號：JSM-7800F
基本功能：
1.配備LED和UED探 頭，可進行SEM、GB等不同多種工作模式間的切換，實現(xiàn)高倍率二次電子圖像的采集。
2.配有背散射探頭，可進行背散射電子圖像的采集。
3.結合OXFORD的X-Max50能譜探測器，可進行成分分析，以及元素的線掃描、面分布分析。
4.搭載EXENOS電子束光刻系統(tǒng)，可進行納米級光刻。
送樣要求：
1.固體粉末或塊狀樣品，塊狀直徑小于40mm，高度小于30mm，樣品表面無浮粉，粉末樣品粘貼后用氮槍吹去浮粉。
2.測試樣品應具有良好的導電性且無磁性(磁鐵吸不起來)，導電性差的樣品測試前聯(lián)系管理老師進行噴金等處理。
3.測試樣品熱穩(wěn)定性好，不含有水分或其它易揮發(fā)物，任何潮濕含有水分的樣品一律不接受觀測請求。
聯(lián)系方式：
測試地點：綜合樓208
管理人員：盧虹穎
聯(lián)系電話：13399887381
