儀器品牌:帕納科(PANalytical)
儀器型號:X'Pert3Powder
基本功能:
1. 常規(guī)XRD測試;
2. 小角XRD測試;
3. 掠入射GIXRD測試;
4. 殘余應(yīng)力測試
5. 薄膜厚度測試
6. 后期分析(定性定量分析,結(jié)晶度分析等)
儀器主要技術(shù)參數(shù):
1. 輸出功率:3kW
2. 額定電壓電流:60kV、60mA
3. 光源:點(diǎn)光源、線光源
4. 光管靶材:Cu靶、Cr靶
5. 角度重現(xiàn)性:0.0001°
6. 測量范圍:0度—160度
送樣要求:
1.可測粉末、薄膜、固體樣品
2. 粉末樣品需3g左右,顆粒度達(dá)300目(提供樣品制備服務(wù));薄膜厚度需20nm以上;固體樣品測試面平整,所有測試面需要達(dá)到10mm*10mm
聯(lián)系方式:
測試地點(diǎn):綜合樓205
管理人員:劉界
聯(lián)系電話:18702345115