歡迎訪問中國科學院重慶綠色智能技術研究院·綜合分析測試中心 ——所級公共技術中心
材料性能表征測試平臺配置了透射電子顯微鏡、熱場發射掃描電子顯微鏡、納米力電原子力顯微鏡、顯微CT系統、X射線衍射儀、激光掃描共聚焦顯微鏡等各型儀器共18臺套。該平臺利用透射電鏡技術，主要實現對納米線、納米顆粒、納米孔等各類納米材料結構的精確解析；場發射掃描電鏡及其配套制樣設備，建立起了樣品表面的高分辨率觀察及斷面超微結構的完整技術體系；原子力顯微鏡特色技術，建立起了對樣品表面的大范圍形貌篩選和小范圍全面精密測試相結合的實驗體系。該平臺聚焦于材料二/三維微觀形貌表征和理化特性測試，以及材料內部三維結構重建，材料成分和結構分析等檢測能力，對碳基芯片光電探測器、有機太陽能電池技術、空間增材制造技術、納米孔單分子測序技術等研究領域形成有力支撐。
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設備名稱 |
型號 |
位置 |
設備管理員 |
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納米力電原子力顯微鏡 |
Dimension ICON |
201 |
趙復慶 |
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原子力顯微鏡 |
Dimension EDGE |
201 |
趙復慶 |
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透射電子顯微鏡 |
JEM-2100Plus |
國科大6號樓104 |
易夏琳 |
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場發射掃描電子顯微鏡 |
JSM-7800F |
208 |
盧虹穎 |
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場發射掃描電子顯微鏡及分析制樣系統 |
Apreo 2S HiVac |
208 |
戴玉潔 |
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微焦點高分辨率X射線源與探測系統 |
nanoVoxel-2000 |
南超凈間樓庫房2 |
胡磊 |
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X射線衍射儀 |
X’Pert3 Powder |
205 |
劉界 |
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激光共聚焦拉曼光譜儀 |
InVia Reflex |
203 |
戴玉潔 |
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拉曼變溫系統 |
定制 |
203 |
戴玉潔 |
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激光掃描共聚焦顯微鏡 |
FV1200 |
205 |
羅蘭 |
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紅外光譜成像儀 |
Spotlight |
203 |
徐春霞 |
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超高速數字攝像機 |
Phantom v2512 |
207 |
趙復慶 |
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高速紅外熱像儀 |
INFRATEC ImageIR 8355hp |
207 |
趙復慶 |
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比表面與孔徑分析儀 |
Belsorp-max |
203 |
徐春霞 |
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熱重及同步分析儀 |
TGA/DSC 1 |
203 |
羅蘭 |
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差示掃描量熱儀 |
DSC 1 |
203 |
羅蘭 |
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zeta電位與粒度分析儀 |
Zetasizer Nano ZS |
204 |
徐春霞 |
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紅外光譜儀 |
Agilent Cary 630 |
203 |
徐春霞 |
